La microscopia electrónica de barrido es una técnica instrumental que encuentra gran cantidad de aplicaciones en diversos campos de la ciencia y la tecnología. Se trata de una instalación útil para el estudio de todo tipo de materiales, así como muestras de origen biológico o mineral.

 

 

 

 

 

 

MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO «HITACHI S-3500N»

El equipo está configurado para obtener imágenes tanto en alto vacío como en presión variable. Asimismo, está capacitado para obtener buenos resultados a bajo voltaje, lo que permite en algunos casos (ciertas muestras biológicas, polímeros, aleaciones ligeras,…) evitar el pretratamiento de las muestras. Dispone de un sistema criogénico para la preparación y acondicionamiento de muestras, especialmente las biológicas, lo que constituye una alternativa a los métodos de preparación tradicionales.

La instalación cuenta con diversa instrumentación para llevar a cabo las sucesivas etapas para la preparación, observación y evaluación final de las muestras. Consta de los siguientes elementos:

Microscopio electrónico de barrido S-3500N de Hitachi

• Cañón de electrones con un voltaje acelerador de 0.5 a 30 kV, ajustable por pasos.
• Fuente de electrones con filamento de W, polarización automática y alineamiento electrónico del cañón.
• Sistema de lentes con supresión de histéresis. Corriente de sonda con ajuste manual o automático, ajustable de 1 pA a 1 mA. Corrección de astigmatismo manual y electrónica.
• Movimientos motorizados en los ejes X e Y.
• Resolución de imagen de electrones secundarios de al menos 3.0 nm, en modo de alto vacío.
• Resolución de imagen de electrones retrodispersados de al menos 5.0 nm, en modo de presión variable. Este detector trabaja en modo composicional o topográfico.
• Rango de magnificación desde 18x hasta 300 000x, en más de 60 etapas.
• Cámara infrarroja.
• Sistema de vacío con control de evacuación, provisto de una bomba difusora y dos bombas rotatorias.
• Enfoque manual y automático con ajuste grueso y fino. Rastreo automático del foco.

Analizador por energías dispersivas de rayos X «XFlash 5010» de Bruker AXS Microanalysis

• Resolución de 129 eV en el pico Kα del Mn a la mitad de su altura.
• Área activa de 10 mm2.
• Detecta desde B (5) hasta Am (95).
• Registra hasta 750 000 cps.
• Trampa de electrones optimizada para un análisis libre de interferencias en el rango bajo de energías.
• Refrigeración termoeléctrica por efecto Peltier.
• Aplicación informática «Esprit Quantax 400», capaz de manejar espectros de energías dispersivas de rayos X, perfiles de distribución de elementos a lo largo de una línea y mapas de distribución de elementos en un área seleccionada.

Sistema de difracción de electrones retrodispersados «e- Flash HR+» de Bruker Nano

• Retráctil y ajustable verticalmente (de hasta ±4º) para la optimización de la distancia de trabajo y el centrado de patrones de difracción en la pantalla de fósforo.
• Autocalibrable.
• Uso combinado con el detector de energías dispersivas de rayos X.
• Selección de una zona de interés donde realizar los análisis.
• Portamuestras preinclinados a 70º y 45º.
• Aplicación informática «Esprit CrystAlign», capaz de realizar estudios de orientación y distribución de fases cristalinas.
• Motor de búsqueda de fases cristalinas en las bases de datos preinstaladas.

PREPARACIÓN DE MUESTRAS

Accesorio criogénico PolarPrep 2000 de Quorum Technologies

• Platina enfriada con nitrógeno líquido.
• Dispositivo de anticontaminación.
• Cámara de preparación con platina enfriada y dewar.
• Dispositivo de fractura y rayado.
• Iluminación de la cámara de trabajo.
• Cabezal de recubrimiento metálico con blanco de oro.
• Cabezal de evaporación de fibra de carbono.
• Unidad de control para regulación de vacío, espesor de recubrimiento y temperatura.

Sistema de metalización SC7610 de Quorum Technologies

• Anillos para metalizar con oro, oro-paladio y platino.
• Tamaño de grano inferior a 5nm.
• Incremento de la temperatura inferior a 10ºC.
• Uniformidad en el recubrimiento mejor del 10%.

Sombreador de carbono CA7615 de Quorum Technologies

• Evaporación mediante varilla de grafito.
• De uso en la preparación de muestras para microanálisis.

Desecador por punto crítico CPD 030 de BAL-TEC

• Hasta 9 posiciones de procesado.
• Velocidad de enfriamiento de 2ºC/min.

 

Personal de contacto
Mª José Roca Hernández	mjose.roca@upct.es	Tlfnos. 968338972-968338977
Elba Martínez Hernández	elba.martinez@upct.es	Tlfno. 968 33 8952