Permite recabar información química superficial de alto valor analítico en el campo de la caracterización de materiales de origen inorgánico u orgánico, con el fin de determinar sus magnitudes microestructurales superficiales y subsuperficiales, que derivan en propiedades tales como la actividad catalítica, capacidad adsorbente, resistencia a la corrosión, mojabilidad, repulsión electrostática, actividad bactericida, susceptibilidad a la fotodegradación, cambios en los índices de refracción, pasivación… La técnica se usa para conocer el entorno químico de los átomos; su distribución en función del espesor analítico; el espesor de capas, multicapas e intercaras; la estructura de la banda de valencia, nivel de Fermi y función de trabajo; así como el análisis de procesos difusionales y el crecimiento de películas delgadas.

ESPECTRÓMETRO DE FOTOELECTRONES PRODUCIDOS POR RAYOS X Y ULTRAVIOLETA «SPECS FlexPS-E»

El equipo cuenta con una cámara de análisis cilíndrica de mu-metal, con capacidad para realizar espectroscopía e imagen de fotoelectrones, así como difracción de electrones de baja energía. Alberga dos posiciones de trabajo en las que se puede realizar —en sus siglas en inglés— XPS, ARXPS, UPS, ARUPS, ISS y LEED. Cuenta con las siguientes características:

Sistema de bombeo

• Presión base menor de 5·10^–10 mbar.
• Bomba de sublimación de Ti con blindaje criogénico.
• Bomba turbomolecular «Pfeiffer HiPace700».
• Sensor de vacío de cátodo caliente tipo Bayard-Alpert, capaz de medir presiones en el rango 1·10^–10 – 1·10^–4 mbar.

Analizador de energía hemisférico «PHOIBOS 150»

• Rango de energía cinética de 0 a ± 3500 eV, para trabajar con electrones e iones positivos y negativos.
• Adquisición de espectros e imágenes de fotoelectrones producidos por rayos X y ultravioleta.
• 8 rendijas de entrada y 3 de salida.
• Radio medio de 150 mm y distancia de trabajo de 40 mm.
• Lentes electrostáticas para magnificación, resolución en ángulo y alta transmisión.
• Ángulo máximo de ± 15º en modo de ángulo resuelto y en modo de transmisión.
• Resolución en energía < 1.8 meV, resolución angular < 0.1º y resolución espacial < 100 µm.
• Detector 2D «Chevron MCP» de 40 mm de diámetro activo y cámara CMOS «Sony IMX174» de alta velocidad (160 fps).
  • Rango dinámico mayor de 10⁶ cps y ruido menor de 3 cps en toda su área.
  • Hasta 1920 x 1200 canales.
• Selección continua de energía de paso entre 0 y 550 eV.

Manipulador de 5 ejes (XYZPA) de alta precisión y temperatura variable

• Rango de movimiento en X e Y de ± 12.5 mm.
• Traslación en Z a lo largo de toda la cámara de análisis.
• Rotación polar de ± 180º alrededor del eje Z.
• Rotación azimutal de ± 90º en el plano XZ.
• Precisión < 10 µm en traslación y 0.1º en rotación.
• Protección de final de carrera en todos los movimientos.
• Temperatura de trabajo desde 15 hasta 1270 K.
• Caña de trasferencia para líquidos criogénicos.

Fuente de rayos X monocromática XR50M con ánodo dual de Al/Ag

• Monocromador de rayos X «FOCUS 500», con un círculo de Rowland de 500 mm.
• Resolución de 0.3 eV para Al K-alfa.
• Obturador con ventana móvil de Mylar.

Fuente de rayos X no monocromática XR50 con ánodo dual de Si/Zr

• Adaptador en Z de 50 mm para optimizar la distancia de trabajo.

Fuente de radiación ultravioleta «µSIRIUS UVS ETC»

• Basada en el principio duo-plasmatrón, que permite enfocar la radiación en una región < 300 µm.
• Densidad de flujo superior a 10¹⁴ fotones / (s · mm²).
• Ratio ajustable entre las líneas de radiación de resonancia He I y He II mejor de 3:1.

Fuente de iones «IQE 12/38»

• Adecuada para realizar sobre la muestra operaciones de limpieza, perfiles en profundidad y espectroscopía de dispersión de iones.
• Área de barrido de 10 x 10 mm².
• Rango de energía de 0.2 a 5.0 keV.
• Región enfocada de 125 µm a 0.4 µA y 3 keV.

Neutralizador de carga FG22/35

• Diseñado para neutralización genérica de cargas en muestras aislantes o semiconductoras cargadas positivamente.
• Energía en el rango 1–500 eV.
• Distancia de trabajo de 40 mm.

Difractómetro de electrones de baja energía «ErLEED 150»

• Óptica de 3 rejillas de Mo recubierto de Au y obturador multisegmento.
• Retracción lineal en Z de 100 mm.
• Rango de energía del cañón de 0 a 3000 eV.

Cámara de observación de la muestra GigE

• Resolución de 25 µm con un campo de visión de 8 x 10 mm² a una distancia de trabajo de 200 mm.

Programa «SpecsLab Prodigy»

• Diseñado para la adquisición de datos y evaluación de los resultados obtenidos.
• Generación de experimentos automatizados.
• Módulo ISQAR para el procesamiento de datos y realización de informes.

 

Personal de contacto
L. Alberto Alcolea Rubio	alberto.alcolea@upct.es	Tlfnos. 968338955–968338892